Статья посвящена рассмотрению возможностей применения в магнитотеллурике теллурического тензора, определяемого из линейных соотношений электрического поля в рядовой и базовой точках. Особое внимание уделено локально-региональному разложению теллурического тензора, позволяющему разделить влияние приповерхностных неоднородностей и изучаемых глубинных структур. Подходы, широко применяемые при анализе тензора импеданса, адаптированы нами для анализа теллурического тензора и опробованы на синтетических данных, рассчитанных для трехмерной модели с глубинной проводящей структурой и неоднородным приповерхностными слоем. Рассмотрен определяемый по теллурическому тензору фазовый тензор, свободный от приповерхностных эффектов. Показано, что карты инвариантных параметров и полярные диаграммы позволяют оценить размерность среды, локализовать глубинные структуры и оценить их простирание.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации